Los rayos X tienen una energía elevada y una longitud de onda corta en comparación con la luz visible, lo que los hace ideales para sondear las distancias interplanares (=tensión residual) en materiales cristalinos.
La tecnología de difracción de rayos X proporciona datos fiables e inigualables para la evaluación del control de calidad. Esta técnica es aplicable a todos los materiales cristalinos, incluidos los cerámicos.
El método de difracción de rayos X permite la medición de la tensión absoluta sin necesidad de una muestra sin tensión para la calibración. Los resultados de la medición de la tensión residual se presentan en valores absolutos de MPa.